Hyppää hakukenttään
Hyppää sivun pääsisältöön
Hyppää saavutettavuusselosteeseen
Tiedejatutkimus.fi
Valikko
Suomeksi
På svenska
In English
Etusivu
Haku
Tiede- ja innovaatiopolitiikka
Tiede- ja tutkimusuutiset
Suomeksi
- 199 hakutulosta
Julkaisut
199
Rahoitushaut
0
Myönnetty rahoitus
1
Tutkijat
0
Aineistot
0
Infrastruktuurit
0
Organisaatiot
0
Hankkeet
0
Julkaisut -
199
hakutulosta
Hyppää hakutuloksiin
Näytä kuvana
Rajaa hakua
Näytetään tulokset 1 - 10 / 199
10
50
100
tulosta / sivu
Mitä
julkaisu
tietoja palvelu sisältää?
Julkaisun nimi
Tekijät
Julkaisukanava
Vuosi
Adhesion effects in
nanoimprint
lithography
Sotomayor Torres, C.M.; Zankovych, S.; Seekamp, J.; Schulz, H.; Roos, N.; Scheer, H.C.; Pfeiffer, K....
1st International Conference on
Nanoimprint
and Nanoprint Technology, NNT'02
2002
Lift-Off process for
nanoimprint
lithography
Carlberg, P.; Graczyk, M.; Sarwe, E.L.; Maximov, I.; Beck, M.; Montelius, L.; Sotomayor Torres, C.M....
1st International Conference on
Nanoimprint
and Nanoprint Technology, NNT'02
2002
Nanoimprint
lithography
for organic electronics
Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/S0167-9317(02)00505-1
Cedeño, C. Clavijo; Seekamp, J.; Kam, A.P.; Hoffmann, T.; Zankovych, S.; Sotomayor Torres, C.M.; Men...
Microelectronic Engineering
2002
Development and characterization of resist for low temperature
nanoimprint
lithography
Reuther, F.; Fink, M.; Grueztner, G.; Pfeiffer, K.; Seekamp, J.; Zankovych, S.; Sotomayor Torres, C....
1st International Conference on
Nanoimprint
and Nanoprint Technology, NNT'02
2002
Nanoimprint
lithography
: An alternative nanofabrication approach
Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/S0928-4931(02)00221-7
Sotomayor Torres, C.M.; Zankovych, S.; Seekamp, J.; Kam, A. P.; Cedeño, C. Clavijo; Hoffmann, T.; Ah...
Materials Science and Engineering C: Materials for Biological Applications
2003
Fluorecence microscopy as a new method for quality control in
nanoimprint
lithography
Beck, M.; Carlberg, P.; Maximov, I.; Sarwe, E.L.; Montelius, L.; Mayer, C.; Finder, C.; Seekamp, J.;...
1st International Conference on
Nanoimprint
and Nanoprint Technology, NNT'02
2002
The use of automatic demolding in
nanoimprint
lithography
processes
Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.mee.2007.01.023
Merino, S.; Schift, H.; Retolaza, A.; Haatainen, Tomi
Microelectronic Engineering
2007
Fluorescence microscopy for quality control in
nanoimprint
lithography
Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/S0167-9317(03)00123-0
Finder, Ch.; Zankovych, S.; Maximov, I; Reuther, F.; Sarwe, E.L.; Seekamp, J.; Pfeiffer, K.; Carlber...
Microelectronic Engineering
2003
Flexible stamp for
nanoimprint
lithography
Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/MEMSYS.2005.1453978
Nielsen, T.; Pedersen, R.H.; Hansen, O.; Haatainen, Tomi; Tolkki, Antti; Ahopelto, Jouni; Kristensen...
IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers
2005
Nanoimprint
devices fabricated using
nanoimprint
lithography
Vertaisarvioitu
Niemi, Tapio
Finnish-Russian Photonics and Laser Symposium PALS
2011
Adhesion effects in
nanoimprint
lithography
2002
Lift-Off process for
nanoimprint
lithography
2002
Nanoimprint
lithography
for organic electronics
Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/S0167-9317(02)00505-1
2002
Development and characterization of resist for low temperature
nanoimprint
lithography
2002
Nanoimprint
lithography
: An alternative nanofabrication approach
Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/S0928-4931(02)00221-7
2003
Fluorecence microscopy as a new method for quality control in
nanoimprint
lithography
2002
The use of automatic demolding in
nanoimprint
lithography
processes
Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.mee.2007.01.023
2007
Fluorescence microscopy for quality control in
nanoimprint
lithography
Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/S0167-9317(03)00123-0
2003
Flexible stamp for
nanoimprint
lithography
Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/MEMSYS.2005.1453978
2005
Nanoimprint
devices fabricated using
nanoimprint
lithography
Vertaisarvioitu
2011
Edellinen
1
2
3
4
5
Seuraava
Näytetään tulokset 1 - 10 / 199
Sivu 1
Sort